Gwyddoniaeth a Pheirianneg: Ysgoloriaeth PhD wedi'i hariannu'n llawn: Metrology and Process Integration for defect mapping of next generation semiconductor materials and devices (RS684)
Dyddiad cau: 30 Hydref 2024
Gwybodaeth Allweddol
Cymhwyster
Cyllid
Sut i wneud cais
Am ddisgrifiad llawn, cliciwch ar y ddolen i'r Saesneg.
Os oes gennych ymholiadau, cysylltwch â'r Athro Owen Guy (o.j.guy@abertawe.ac.uk) / yr Athro Mike Jennings (m.r.jennings@abertawe.ac.uk).
*Rhannu Data Ceisiadau â Phartneriaid Allanol - Sylwer, fel rhan o'r broses dethol ceisiadau am ysgoloriaethau, efallai byddwn yn rhannu data â phartneriaid allanol y tu allan i'r Brifysgol, pan gaiff prosiect ysgoloriaeth ei ariannu ar y cyd.